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奧林巴斯探傷儀 測厚儀 延遲探頭V221-BA-RM
詳細(xì)信息| 詢價留言品牌：奧林巴斯 型號：V221-BA-RM 加工定制：是 適用對象：探傷測厚儀探頭 型號：V221-BA-RM 加工定制：是
奧林巴斯探傷儀 測厚儀 延遲探頭V222-BB-RM
延遲塊探頭：
延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個薄片。
延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率，可以測量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測量結(jié)果。延遲塊
可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。
可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供極佳的近場分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測�？筛鼡Q延遲塊探頭
• 每個探頭的配置都帶有一個標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個固定環(huán)。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
奧林巴斯探傷儀 測厚儀 延遲探頭
• 生成可垂直于檢測面?zhèn)鞑サ臋M波。
• 為了方便對齊，橫波極性的方向名義上與直角連接器呈一條 直線。
• 縱波與橫波分量的比率一般在-30 dB以下。
應(yīng)用
• 橫波聲速測量。
• 楊氏彈性模量和剪切模量的計算。
• 材料顆粒結(jié)構(gòu)的特性鑒定。
延遲塊系列
• 整合型延遲塊可以使測量在高頻下進(jìn)行。
• 熔融石英延遲塊
• *大程度地降低了衰減性，并為晶片提供了物理意義上的保護(hù)。
頻率 標(biāo)稱晶片尺寸 延遲 探頭工件編號 MHz 英寸 毫米 微秒 5 0.25 6 7 V220-BA-RM 10 0.25 6 7 V221-BA-RM 20 0.25 6 7 V222-BA-RM 0.25 6 7 V222-BB-RM 0.25 6 4 V222-BC-RM 
奧林巴斯
Olympus公司是一家專營光學(xué)、電子及精密工程產(chǎn)品，涉及工業(yè)、醫(yī)療及消費(fèi)市場的跨國公司。Olympus生產(chǎn)的儀器有助于保證產(chǎn)品質(zhì)
量，提高基礎(chǔ)設(shè)施及設(shè)備的安全性。
Olympus NDT公司是全球領(lǐng)先的生產(chǎn)創(chuàng)新型無損檢測和測量儀器的企業(yè)。其生產(chǎn)的儀器應(yīng)用于包括航空航天、電力、石油化工、民用
基礎(chǔ)設(shè)施、汽車以及消費(fèi)產(chǎn)品在內(nèi)的各種工業(yè)和研究領(lǐng)域。其掌握的前沿檢測技術(shù)包括超聲、超聲相控陣、渦流、渦流陣列、顯微鏡
檢查、光學(xué)計量，以及X光熒光分析。其生產(chǎn)的產(chǎn)品包括探傷儀、測厚儀、工業(yè)NDT系統(tǒng)及掃查器、視頻鏡、管道鏡、高速視頻攝像機(jī)、
顯微鏡、便攜式X光分析儀、探頭及各種輔助設(shè)備。
Olympus NDT公司的總部設(shè)在美國馬薩諸塞州的沃爾瑟姆，并在世界范圍內(nèi)的各大主要工業(yè)地區(qū)都設(shè)有銷售和服務(wù)中心。
Panametrics超聲探頭
我們提供的各種頻率、晶片直徑及連接器類型的Panametrics超聲探頭有5000種以上。擁有40多年探頭研制經(jīng)驗(yàn)的Olympus
NDT已經(jīng)開發(fā)了用于缺陷探測、焊縫檢測、厚度測量及材料分析等特殊應(yīng)用的各種各樣的定制探頭
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